1范围
1.1主题内容
本标准规定了非导电材料表面涂或镀层、金属网,导电薄膜、导电玻璃、导电介质板等平板型电磁屏蔽材料对于平面波屏蔽效能的浏量方法。
1.2适用范围
本标准适用于金属薄板、非导电材料表面涂或镀层﹑金属网,导电薄膜、导电玻璃,导电介质板等平板型电磁屏蔽材料对于平面波的屏蔽效能的测量。
2引用文件
GB 6113—85电磁干扰测量仪
GJB 72--85电磁干扰和电磁兼容性名词术语
GJB/Z25--90电子设备和设施的接地﹑搭接和屏蔽设计指南
b.试样在受试之前应在温度(23士2)℃,相对湿度(50士5)%的条件下存放48 h,试验时取出并立即进行试验﹔
c双面均有导电材料的负载试样,应对试样的外缘及贯通孔内壁作导电处理,使两面连通。制成的负载试样和参考试样应是同种材料,并且厚度相同。它们的不平度不应大于其本身厚度的2%;
d.在法兰同轴测试装置中夹放试样时,应将导电面朝向信号源端,并夹紧试样,使试样与法兰同轴测试装置紧密的接触﹐避免因接触不良而引起的测量误差。对屏蔽效能高的试样及玻璃等脆性导电试样,在同轴法兰的法兰面上必须加导电衬垫
e、若测量若干片厚度相同的同-类负载试样时,应使负载试样与法兰同轴测试装置紧密的接触,记下紧固螺母侧面刻度指示的方位值,以后各片负载试样均以此读数为准,这样就保证了每片负载试样的压紧力相同,提高测量的可重复性,避免因压力不同而引起的测量误差;
f.本标准所采用的测量设备,必须有足够的动态范围﹐即测量设备的动态范围应大于法兰同轴测试装置的动态范围;
在对负载试样进行测量之前,应对装有参考试样的情况进行测量;并记录测量数据作为直通状态数据﹔
h.如果有标准试样,应用标准试样对法兰同轴测试装置进行校准。它可以确定整个系统是否工作在正常状态。标准试样为单面镀金的聚酯薄膜,表面电阻为单位面积(5±2)0。屏蔽效能为(32士3)dB。
j由于背景噪声会影响接收机的灵敏度﹐所以测量屏蔽效能在60.dB 以上的屏蔽材料时应使用双层屏蔽或半钢性电缆﹔
j在进行此项测量之前,测试人员应进行专门的训练并积累经验,以保证测量结果的准确性和可重复性;
k。测量系统应有良好的接地﹔
l，在进行测量时应至少在30 MHz,50 MHz,100 MHz,300 MHz,500MHz,1GHz等频率点给出测量结果;
